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    恒瑞電瓷電器小課堂:瓷絕緣子低零值的危害及其檢測技術(shù)

      醴陵市恒瑞電瓷電器有限公司,扎根國家特高壓電力行業(yè),作為醴陵老牌電瓷電氣企業(yè),恒瑞電瓷積累了豐富的生產(chǎn)與安裝服務(wù)經(jīng)驗(yàn)。大多數(shù)人對于瓷絕緣子低零值的危害及其檢測技術(shù)存在一些誤區(qū),接下來就由恒瑞電瓷電器小課堂來為大伙普及盲區(qū)。

      

      瓷絕緣子低零值產(chǎn)生的原因如果絕緣子工頻擊穿電壓低于干閃電壓,則屬劣質(zhì)絕緣子。絕緣已經(jīng)被擊穿的絕緣子,稱為零值絕緣子。按DL/T626-2015《劣化盤形懸式絕緣子檢測規(guī)程》的規(guī)定:①電壓等級在500千伏特及以上,絕緣子絕緣電阻低于500MΩ時,判定為劣化絕緣子。

      

     ?、陔妷旱燃壍陀?00kV,絕緣子絕緣電阻低于300mω,判定為劣化絕緣子。

      

      有絕緣電阻超過10MΩ的劣化絕緣子通常稱為低值絕緣子,絕緣電阻低于10MΩ的劣化絕緣子稱為零值絕緣子。

      

      造成絕緣子串低零值的原因主要有兩個:一方面,部分批次絕緣子劣化率較高,在投運(yùn)初期沒有經(jīng)過嚴(yán)格的檢測,導(dǎo)致殘次品“帶病運(yùn)行”;另一方面,瓷絕緣子在運(yùn)行過程中因長期經(jīng)受機(jī)電負(fù)荷、日曬雨淋、冷熱變化等作用,也可能出現(xiàn)絕緣電阻降低、開裂甚至擊穿等故障。

      

      在絕緣子串中存在零值絕緣子時,污閃幾率和過壓發(fā)生幾率都很高,即使正常工作電壓也會出現(xiàn)閃絡(luò)現(xiàn)象。當(dāng)絕緣子串閃時,短路電流經(jīng)過零絕緣子的內(nèi)隙,大電流的熱效應(yīng)可引起瓷頭斷斷、鑄鐵帽炸裂、鋼腳脫落、瓷件頭燒成玻璃等,導(dǎo)致絕緣子掉串和導(dǎo)線掉線等一系列嚴(yán)重事故。

      

      瓷絕緣子低零值檢測方法零值絕緣子在電氣性能、局部放電、溫度分布等多個方面與良好絕緣子相比,存在著差異。依據(jù)這些特征和差異,可用相應(yīng)的儀器或裝置,采用不同的測量方法進(jìn)行檢測。電壓分配法(火花叉法)、漏電流測定法、紅外線成像法和絕緣電阻法是目前國內(nèi)外對零值瓷絕緣子的檢測方法。

      

      分布電壓測定法(火花叉法):當(dāng)絕緣子串中有零值絕緣子,將明顯影響絕緣子串的電壓分布?;鸹ú鏅z測桿端部裝上一個金屬絲做成的叉子,把火花叉的一端與被測絕緣子下面絕緣子的鋼帽接觸,當(dāng)另一端靠近被測絕緣子鋼帽時,鋼帽間的空氣間隙會產(chǎn)生火花。測試中絕緣子所承受的分布電壓越高,火花越早,火花聲越大,由此可判斷被測絕緣子所承受電壓的情況。如果被測絕緣子是零值的,就不承受電壓,因而就沒有火花。

      

    圖片1

      圖1火花叉法檢測低零值絕緣子

      泄漏電流測量法:正常時,絕緣子串泄漏電流為毫安級,當(dāng)有零值或低值絕緣子時,其對地泄漏電流的值將產(chǎn)生較大的變化。當(dāng)前所開發(fā)的測量漏流電流的電流傳感器在測量精度上是沒有問題的,但是對于一般情況下的漏電電流值也會隨著時間和環(huán)境的變化而發(fā)生變化,因此如何確定判斷標(biāo)準(zhǔn)就是一個難題。

      

      紅外熱像法:紅外熱像法檢測劣化絕緣子的原理是根據(jù)劣化絕緣子的熱像特征與良好絕緣子相比呈亮色調(diào)(低值)或暗色調(diào)(零值),檢測時如發(fā)現(xiàn)絕緣子串中溫度分布不連續(xù)且有亮色調(diào)(或暗色調(diào))的熱像者,則判為低值(或零值)絕緣子。

      

    圖片2

      圖2紅外熱像法檢測低零值絕緣子

      絕緣電阻測量法:絕緣電阻表主要包括絕緣搖表和電子式絕緣電阻測試儀,利用絕緣電阻表直接測量絕緣子的絕緣電阻可以實(shí)現(xiàn)對零值絕緣子的檢測。用絕緣電阻表對瓷質(zhì)絕緣子和低值進(jìn)行檢測具有相當(dāng)?shù)木龋捎趩未螠y量時間較長,對每片絕緣子電阻檢測時間至少1min,因此該方法不適合大規(guī)模的絕緣子普測。此外,其檢測電壓較低,難以發(fā)現(xiàn)大噸位絕緣子中的缺陷。

      

      現(xiàn)有絕緣子零值檢測方法的局限性根據(jù)國家公司十八項(xiàng)反措要求,所有盤形懸式瓷絕緣子在現(xiàn)場安裝前應(yīng)逐個進(jìn)行零值檢測。然而,現(xiàn)有的檢測方法都有局限性。

      

      分配電壓測定法(火花叉法)可以不間斷地測量絕緣子低零值,但在一些特殊環(huán)境中由于不能準(zhǔn)確地知道絕緣子電阻的數(shù)值,容易導(dǎo)致測試人員的誤判。泄漏電流測量法存在判據(jù)取值難以確定的問題。紅外熱像法適用于瓷絕緣子投運(yùn)后的不停電測量,對拍攝對象的背景要求較高。

      

      絕緣電阻測量法檢測瓷絕緣子電阻時間長,效率低,難以滿足數(shù)以十萬計(jì)的瓷絕緣子電阻值檢測要求,亦導(dǎo)致瓷絕緣子安裝前現(xiàn)場逐個零值檢測的反措要求難以落實(shí)。另外,實(shí)際應(yīng)用中發(fā)現(xiàn),由于兆歐表測試電壓過低,不能有效發(fā)現(xiàn)特高壓低值絕緣子。


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